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Startseite » Shop » 9783959082464 » CHARACTERIZATION AND COMPACT MODELING OF SILICON-GERMANIUM HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTORS FROM ROOM TO CRYOGENIC TEMPERATURES von Xiaodi Jin (kartoniertes Buch)

CHARACTERIZATION AND COMPACT MODELING OF SILICON-GERMANIUM HETEROJUNCTION BIPOLAR TRANSISTORS FROM ROOM TO CRYOGENIC TEMPERATURES

Erschienen am 07.11.2024
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Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9783959082464
Sprache: Englisch
Umfang: 210 S.
Einband: kartoniertes Buch

Produktsicherheitsverordnung

Hersteller:
THELEM Universitätsverlag
mail@thelem.de
Bergstraße 70
DE 01139 Dresden

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