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CMOS Test and Evaluation

A Physical Perspective

Erschienen am 04.12.2014, 1. Auflage 2015
181,89 €
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Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9781493913480
Sprache: Englisch
Umfang: xiii, 424 S., 338 s/w Illustr., 424 p. 338 illus.
Einband: gebundenes Buch

Beschreibung

InhaltsangabeIntroduction.- CMOS Circuit Basics.- CMOS Storage Elements and Synchronous Logic.- IDDQ and Power.- Embedded PVT Monitors.- Variability.- Product Chip Test and Characterization.- Reliability, Burn-In and Guardbands.- Data Analysis and Characterization.- CMOS Metrics and Model Evaluation.

Produktsicherheitsverordnung

Hersteller:
Springer Verlag GmbH
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DE 69121 Heidelberg

Autorenportrait

Manjul Bhushan is a technical consultant in New York.Mark Ketchen is a technical consultant in Massachusetts.